众所周知，初试结束就会迎来复试，复试各个院校也会出大纲的，今天，为了方便考研的小伙伴们，小编为大家整理了“2021考研复试大纲：哈尔滨理工大学理学院2020年硕士研究生招生考试复试科目大纲及参考书目”的相关内容，希望对大家有所帮助！
半导体物理
物理光学
适用专业名称：应用物理、材料物理、微电子、光电技术
参考书目：
《物理光学与应用光学》石顺祥 西安电子科技大学出版社 第二版
《大学物理学》下册 赵近芳 北邮出版社。
一、考试目的与要求
测试考生掌握物理光学基本原理和基本方法，以及分析和解决问题的能力。考生应能够运用基本原理和方法，初步具备解决物理光学中的基本问题的能力。
二、试卷结构（满分100分）
物理光学 100分
题型比例：
1． 计算题 约80分
2． 分析论证题 约20分
三、考试内容与要求
1.光掌握光程 相干光 双缝干涉
2.掌握等倾干涉
3.掌握等厚干涉 迈克尔逊干涉仪
4.掌握单缝的夫琅和费衍射
5.了解圆孔的夫琅和费衍射 光学仪器的分辨本领
6.掌握光栅衍射 X射线衍射
7.掌握自然光和偏振光 起偏和检偏 马吕斯定律 布儒斯特定律
8.掌握反射和折射时光的偏振 光的双折射
9.掌握爱因斯坦光子理论 光电效应 康普顿效应
四、备注
需使用不带记忆功能的科学计算器
原文标题：关于公布我校2020年硕士研究生招生考试复试科目大纲的通知
原文链接：http://graduate.hrbust.edu.cn/info/1243/3641.htm
以上就是“2021考研复试大纲：哈尔滨理工大学理学院2020年硕士研究生招生考试复试科目大纲及参考书目”的相关内容，更多考研信息，请持续关注。
半导体物理
适用专业名称：电子信息类（0854）集成电路工程方向
参考书目：
《半导体物理学》刘恩科 朱秉升 罗晋生 电子工业出版社2011 第七版
一、 考试目的与要求
考察考生对半导体物理的基本概念、基本原理和基本方法的掌握程度和利用基础知识解决电子科学与技术相关问题的能力。要求考生对半导体物理的基本概念有较深入的了解，能够系统地掌握半导体物理中基本定律的推导、证明和应用，并具有综合运用所学知识分析问题和解决问题的能力。
二、 试卷结构（满分100分）
半导体物理 100分
题型比例：
1．名词解释 约20分
2．简答题 约40分
3．计算题 约40分
三、考试内容与要求
（一）半导体的晶格结构和电子状态
考试内容
半导体的晶格结构和结合性质，半导体中的电子状态和能带，半导体中的电子运动和有效质量，本征半导体的导电机构，空穴，硅和锗及III－V族化合物半导体的能带结构。
考试要求
1．了解半导体的晶格结构和结合性质的基本概念。
2．理解半导体中的电子状态和能带的基本概念。
3．掌握半导体中的电子运动规律，理解有效质量的意义。
4．理解本征半导体的导电机构，理解空穴的概念。
5．理解硅和锗的能带结构，掌握有效质量的计算方法。
6．了解III－V族化合物半导体的能带结构。
（二）半导体中杂质和缺陷能级
考试内容
半导硅、锗晶体中的杂质能级。
考试要求
1．理解替位式杂质、间隙式杂质、施主杂质、施主能级、受主杂质、受主能级的概念。
2．简单计算浅能级杂质电离能。
3．了解杂质的补偿作用、深能级杂质的概念。
（三）半导体中载流子的统计分布
考试内容
状态密度，费米能级和载流子的统计分布，本征半导体的载流子浓度，杂质半导体的载流子浓度，一般情况下的载流子统计分布，简并半导体。
考试要求
1．理解并熟练掌握状态密度的概念和表示方法。
2．理解并熟练掌握费米能级和载流子的统计分布。
3．理解并熟练掌握本征半导体的载流子浓度的概念和表示方法。
4．理解并熟练掌握杂质半导体的载流子浓度的概念和表示方法。
5．理解并掌握一般情况下的载流子统计分布。
6．理解并熟练掌握简并半导体的概念，简并半导体的载流子浓度的表示方法，简并化条件。了解禁带变窄效应。
（四）半导体的导电性
考试内容
载流子的漂移运动，迁移率，载流子的散射，迁移率与杂质浓度和温度的关系，电阻率及其与杂质浓度和温度的关系，强电场下的效应，热载流子。
考试要求
1．理解迁移率的概念。并熟练掌握载流子的漂移运动。
2．理解载流子的散射的概念。
参考书目：
《半导体物理学》刘恩科 朱秉升 罗晋生 电子工业出版社2011 第七版
一、 考试目的与要求
考察考生对半导体物理的基本概念、基本原理和基本方法的掌握程度和利用基础知识解决电子科学与技术相关问题的能力。要求考生对半导体物理的基本概念有较深入的了解，能够系统地掌握半导体物理中基本定律的推导、证明和应用，并具有综合运用所学知识分析问题和解决问题的能力。
二、 试卷结构（满分100分）
半导体物理 100分
题型比例：
1．名词解释 约20分
2．简答题 约40分
3．计算题 约40分
三、考试内容与要求
（一）半导体的晶格结构和电子状态
考试内容
半导体的晶格结构和结合性质，半导体中的电子状态和能带，半导体中的电子运动和有效质量，本征半导体的导电机构，空穴，硅和锗及III－V族化合物半导体的能带结构。
考试要求
1．了解半导体的晶格结构和结合性质的基本概念。
2．理解半导体中的电子状态和能带的基本概念。
3．掌握半导体中的电子运动规律，理解有效质量的意义。
4．理解本征半导体的导电机构，理解空穴的概念。
5．理解硅和锗的能带结构，掌握有效质量的计算方法。
6．了解III－V族化合物半导体的能带结构。
（二）半导体中杂质和缺陷能级
考试内容
半导硅、锗晶体中的杂质能级。
考试要求
1．理解替位式杂质、间隙式杂质、施主杂质、施主能级、受主杂质、受主能级的概念。
2．简单计算浅能级杂质电离能。
3．了解杂质的补偿作用、深能级杂质的概念。
（三）半导体中载流子的统计分布
考试内容
状态密度，费米能级和载流子的统计分布，本征半导体的载流子浓度，杂质半导体的载流子浓度，一般情况下的载流子统计分布，简并半导体。
考试要求
1．理解并熟练掌握状态密度的概念和表示方法。
2．理解并熟练掌握费米能级和载流子的统计分布。
3．理解并熟练掌握本征半导体的载流子浓度的概念和表示方法。
4．理解并熟练掌握杂质半导体的载流子浓度的概念和表示方法。
5．理解并掌握一般情况下的载流子统计分布。
6．理解并熟练掌握简并半导体的概念，简并半导体的载流子浓度的表示方法，简并化条件。了解禁带变窄效应。
（四）半导体的导电性
考试内容
载流子的漂移运动，迁移率，载流子的散射，迁移率与杂质浓度和温度的关系，电阻率及其与杂质浓度和温度的关系，强电场下的效应，热载流子。
考试要求
1．理解迁移率的概念。并熟练掌握载流子的漂移运动。
2．理解载流子的散射的概念。
材料分析测试技术
适用专业名称：材料物理与化学
参考书目：
《材料分析测试技术》，周玉、 武高辉，哈尔滨工业大学出版社，2007年；
《材料分析测试技术》，齐海群，北京大学出版，2010年；
《材料分析测试方法》黄新民、解挺，国防工业出版社，2006年。
一、考试目的与要求
测试考生掌握材料分析测试技术的基本原理和基本方法，以及采用x射线衍射和电子显微镜来分析材料的微观组织结构与显微成分的能力。要求考生全面系统地掌握材料现代检测技术（x射线衍射技术及在材料中的应用、电子显微分析技术及在材料中的应用）的基本概念和基本原理，并能够对基本原理进行灵活运用，具有较强的材料检测分析问题、解决问题的能力。
二、试卷结构（满分100分）
内容比例：
x射线衍射技术 约50分
电子显微分析技术 约50分
题型比例：
1．概念题 约30分
2．简答题 约40分
3．计算题 约10分
4．综合分析题 约20分
三、考试内容与要求
（一）X射线分析测试技术
考试内容
X射线性质，X射线方向，X射线衍射强度，X射线物相分析，多晶体分析方法，宏观应力的测定。
考试要求
1. 了解X射线的产生、X射线与物质相互作用时产生的各种物理效应；
2. 掌握布拉格方程和倒易点阵，能够运用Ewald图解进行衍射分析、能计算各种不同空间点阵的晶体、有序－无序固溶体以及粉末多晶的结构因子和X射线衍射强度；
3. 掌握德拜照相法和X射线衍射仪法的基本原理、了解其实验装置、掌握其试样制备方法和实验方法；
4. 熟练掌握X射线衍射在点阵常数的精确测定、多晶体物相分析、宏观应力的测定、晶粒大小的测定、单晶体取向的测定等方面的应用。
（二）电子显微分析技术
考试内容
电子衍射，电子显微图像，透射电子显微镜，晶体薄膜衍衬成像分析，扫描电子显微镜。
考试要求
1. 掌握电子衍射基本原理及衍射基本公式、有效相机常数。
2. 熟悉单晶、多晶和非晶体的电子衍射图特征；
3. 了解两种选区衍射方法(光阑选区衍射和微束选区衍射)，
5. 掌握单晶以及多晶电子衍射花样的标定方法和标定步骤;
6. 了解复杂衍射花样（高阶劳厄斑点，超点阵斑点，二次衍射斑点，孪晶斑点，菊池线）；
7. 理解电子显微图像的质厚衬度原理；
8. 理解衍射衬度原理、掌握衍衬运动学理论并能做简单的衍射波强度计算、熟悉衍衬图像的基本特征；
9. 理解高分辨透射电子显微术的相位衬度原理；
10. 熟练掌握透射电子显微镜的基本结构、工作原理以及样品制备方法；
11.理解电子束与固体样品作用时产生的信号，了解扫描电子显微镜的构造、性能参数和工作原理；熟悉扫描电子显微镜样品的制备方法；
12. 掌握二次电子成像原理和二次电子形貌衬度的应用、掌握原子序数衬度原理及其应用、掌握背散射电子衬度原理及其应用；
13. 了解STM和AFM的分析测试原理、掌握STM和AFM在材料分析工作中的应用。
适用专业名称：材料物理与化学
参考书目：
《材料分析测试技术》，周玉、 武高辉，哈尔滨工业大学出版社，2007年；
《材料分析测试技术》，齐海群，北京大学出版，2010年；
《材料分析测试方法》黄新民、解挺，国防工业出版社，2006年。
一、考试目的与要求
测试考生掌握材料分析测试技术的基本原理和基本方法，以及采用x射线衍射和电子显微镜来分析材料的微观组织结构与显微成分的能力。要求考生全面系统地掌握材料现代检测技术（x射线衍射技术及在材料中的应用、电子显微分析技术及在材料中的应用）的基本概念和基本原理，并能够对基本原理进行灵活运用，具有较强的材料检测分析问题、解决问题的能力。
二、试卷结构（满分100分）
内容比例：
x射线衍射技术 约50分
电子显微分析技术 约50分
题型比例：
1．概念题 约30分
2．简答题 约40分
3．计算题 约10分
4．综合分析题 约20分
三、考试内容与要求
（一）X射线分析测试技术
考试内容
X射线性质，X射线方向，X射线衍射强度，X射线物相分析，多晶体分析方法，宏观应力的测定。
考试要求
1. 了解X射线的产生、X射线与物质相互作用时产生的各种物理效应；
2. 掌握布拉格方程和倒易点阵，能够运用Ewald图解进行衍射分析、能计算各种不同空间点阵的晶体、有序－无序固溶体以及粉末多晶的结构因子和X射线衍射强度；
3. 掌握德拜照相法和X射线衍射仪法的基本原理、了解其实验装置、掌握其试样制备方法和实验方法；
4. 熟练掌握X射线衍射在点阵常数的精确测定、多晶体物相分析、宏观应力的测定、晶粒大小的测定、单晶体取向的测定等方面的应用。
（二）电子显微分析技术
考试内容
电子衍射，电子显微图像，透射电子显微镜，晶体薄膜衍衬成像分析，扫描电子显微镜。
考试要求
1. 掌握电子衍射基本原理及衍射基本公式、有效相机常数。
2. 熟悉单晶、多晶和非晶体的电子衍射图特征；
3. 了解两种选区衍射方法(光阑选区衍射和微束选区衍射)，
5. 掌握单晶以及多晶电子衍射花样的标定方法和标定步骤;
6. 了解复杂衍射花样（高阶劳厄斑点，超点阵斑点，二次衍射斑点，孪晶斑点，菊池线）；
7. 理解电子显微图像的质厚衬度原理；
8. 理解衍射衬度原理、掌握衍衬运动学理论并能做简单的衍射波强度计算、熟悉衍衬图像的基本特征；
9. 理解高分辨透射电子显微术的相位衬度原理；
10. 熟练掌握透射电子显微镜的基本结构、工作原理以及样品制备方法；
11.理解电子束与固体样品作用时产生的信号，了解扫描电子显微镜的构造、性能参数和工作原理；熟悉扫描电子显微镜样品的制备方法；
12. 掌握二次电子成像原理和二次电子形貌衬度的应用、掌握原子序数衬度原理及其应用、掌握背散射电子衬度原理及其应用；
13. 了解STM和AFM的分析测试原理、掌握STM和AFM在材料分析工作中的应用。
常微分方程
试用专业名称：数学
参考书目：
《常微分方程》，王高雄等编，高等教育出版社，2006年
《常微分方程》，东北师范大学微分方程教研室，高等教育出版社，2005年
一、 考试目的与要求
测试考生掌握微分方程的基本理论，基本解法的掌握程度，重点测试考生求解常微分方程的能力及基本定理的简单应用能力。
二、 试卷结构（满分100分）
内容比例：
一阶微分方程的解法 约40分
高阶微分方程的解法及解的结构 约50分
微分方程基本定理的运用 约10分
题型比例：
1．计算题 约60分
2．分析论述题 约40分
三、考试内容与要求
（一）微分方程基本概念
考试内容 微分方程基本概念，解的定义，微分方程解的几何意义。
考试要求
1. 了解基本概念：微分方程通解，初值问题。
2. 掌握微分方程解的几何意义。
（二）一阶微分方程及一阶常微分方程解得基本定理
考试内容
分离变量方程与变量变换，一阶线性方程与常数变易法，积分因子法与恰当方程。 一阶微分方程解的存在唯一定理，解的延拓定理，解对初值连续依赖定理。
考试要求
1. 理解分离变量方程，一阶线性微分方程，恰当方程；解得存在唯一性，延拓，解对初值依赖定理。
2. 掌握分离变量法，常数变易法，积分因子法；解的存在唯一定理及逐步逼近求解法。
（三）高阶微分方程及线性微分方程组
考试内容
线性微分方程求解方法及常系数线性方程求解方法，高阶微分方程降阶法；常系数线性方程组求解方法。
考试要求
1. 熟练掌握常系数线性微分方程求解方法；
2. 掌握常系数线性微分方程组基解矩阵的求法；
了解微分方程及微分方程组解的一般理论。
试用专业名称：数学
参考书目：
《常微分方程》，王高雄等编，高等教育出版社，2006年
《常微分方程》，东北师范大学微分方程教研室，高等教育出版社，2005年
一、 考试目的与要求
测试考生掌握微分方程的基本理论，基本解法的掌握程度，重点测试考生求解常微分方程的能力及基本定理的简单应用能力。
二、 试卷结构（满分100分）
内容比例：
一阶微分方程的解法 约40分
高阶微分方程的解法及解的结构 约50分
微分方程基本定理的运用 约10分
题型比例：
1．计算题 约60分
2．分析论述题 约40分
三、考试内容与要求
（一）微分方程基本概念
考试内容 微分方程基本概念，解的定义，微分方程解的几何意义。
考试要求
1. 了解基本概念：微分方程通解，初值问题。
2. 掌握微分方程解的几何意义。
（二）一阶微分方程及一阶常微分方程解得基本定理
考试内容
分离变量方程与变量变换，一阶线性方程与常数变易法，积分因子法与恰当方程。 一阶微分方程解的存在唯一定理，解的延拓定理，解对初值连续依赖定理。
考试要求
1. 理解分离变量方程，一阶线性微分方程，恰当方程；解得存在唯一性，延拓，解对初值依赖定理。
2. 掌握分离变量法，常数变易法，积分因子法；解的存在唯一定理及逐步逼近求解法。
（三）高阶微分方程及线性微分方程组
考试内容
线性微分方程求解方法及常系数线性方程求解方法，高阶微分方程降阶法；常系数线性方程组求解方法。
考试要求
1. 熟练掌握常系数线性微分方程求解方法；
2. 掌握常系数线性微分方程组基解矩阵的求法；
了解微分方程及微分方程组解的一般理论。
电磁学
适用专业名称：电子科学与技术
参考书目：
《电磁学》赵凯华 陈熙谋 高等教育出版社2006 第二版
一、考试目的与要求
考察考生对电磁学的基本现象和基本定律的掌握程度以及利用基础知识解决电子科学与技术相关问题的能力。要求考生对电磁学的基本概念和基本定律有较深入的了解，能够系统地掌握电磁学中基本定律的推导和应用，并具有综合运用所学知识分析问题和解决问题的能力。
二、试卷结构（满分100分）
电磁学 100分
题型比例：
1．选择题 约30分
2．计算题 约70分
三、考试内容与要求
（一）静电场的基本现象和基本规律
考试内容
静电的基本现象，库仑定律，电场，电场强度，电通量，高斯定理，环路定理，静电场做功，电势及其梯度。
考试要求
1．了解静电的基本现象。
2．理解静电感应、电荷守恒定律和库伦定律等基本概念和定律。
3．掌握电场及电场强度的概念。
4．掌握应用电场强度叠加定理计算带电体产生的电场强度的方法并能灵活应用。
5．理解电通量的概念，掌握高斯定理的表述和证明。
6．掌握应用高斯定理求电场的条件和方法，并能灵活应用。
7．掌握电场线的性质。
8．理解静电场环路定理和电势的概念。
9．掌握电场和电势之间的关系。
10．掌握电势的计算方法。
（二）静电场中的导体
考试内容
导体的静电平衡条件，导体（导体壳）的电荷分布，孤立导体的电容，电容器及电容，电容器储能。
考试要求
1．理解和掌握静电场中导体的平衡条件。
2．简单计算导体和导体壳的电荷分布。
3．掌握电容器中电场、电势以及电容的计算方法，并能灵活应用。
4．理解电容器储能的概念。
（三）静电场中的电介质
考试内容
电介质极化现象，极化的微观机制，极化强度矢量，退极化场，极化率，极化电荷，电位移矢量，高斯定理。
考试要求
1．了解电介质的极化，掌握极化的微观机制。
2．理解极化强度矢量和退极化场的概念。
3．理解极化电荷的概念，掌握极化电荷与极化强度矢量之间的关系。
4．理解并熟练掌握有电介质的高斯定理，并能够灵活应用。
5．理解并掌握电位移矢量与电场及极化强度矢量之间的关系。
（四）恒磁场
考试内容
磁感应强度，比奥-萨伐尔定律，载流回路的磁场，安培环路定理，磁场高斯定理，磁场对载流导线的作用，带电粒子在磁场中的运动。
考试要求
1．了解磁的基本现象，理解磁感应强度的概念。
2．掌握毕奥萨-伐尔定律和安培定律。
3．能够运用毕奥-萨伐尔定律计算不同载流回路的磁感应强度。
4．掌握安培环路定理及采用安培环路定理计算载流导线产生磁场的条件和方法。
5．了解磁场高斯定理，并掌握磁场线的性质。
6．掌握磁场对载流导线的作用。
7．掌握带电粒子在磁场中的运动，理解安培力与洛伦兹力间的关系。
8．了解霍尔效应的概念，掌握利用霍尔效应判别导电类型的方法。
（五）电磁感应
考试内容
法拉第定律，楞次定律，动生电动势，感生电动势，互感和自感。
考试要求
1．了解基本的电磁感应现象。
2．理解法拉第定律，掌握采用法拉第定律计算电动势大小和方向的方法。
3．理解楞次定律，并能够判别电动势的方向。
4．理解动生电动势的概念，掌握动生电动势的计算方法。
5．理解感生电动势的概念，掌握感应电动势的计算方法。
6．掌握交流发电机的基本原理，了解涡旋电场的概念。
7．理解互感和自感的概念，掌握互感和自感的计算方法并能灵活运用。
四、备注
需使用不带记忆功能的科学计算器
适用专业名称：电子科学与技术
参考书目：
《电磁学》赵凯华 陈熙谋 高等教育出版社2006 第二版
一、考试目的与要求
考察考生对电磁学的基本现象和基本定律的掌握程度以及利用基础知识解决电子科学与技术相关问题的能力。要求考生对电磁学的基本概念和基本定律有较深入的了解，能够系统地掌握电磁学中基本定律的推导和应用，并具有综合运用所学知识分析问题和解决问题的能力。
二、试卷结构（满分100分）
电磁学 100分
题型比例：
1．选择题 约30分
2．计算题 约70分
三、考试内容与要求
（一）静电场的基本现象和基本规律
考试内容
静电的基本现象，库仑定律，电场，电场强度，电通量，高斯定理，环路定理，静电场做功，电势及其梯度。
考试要求
1．了解静电的基本现象。
2．理解静电感应、电荷守恒定律和库伦定律等基本概念和定律。
3．掌握电场及电场强度的概念。
4．掌握应用电场强度叠加定理计算带电体产生的电场强度的方法并能灵活应用。
5．理解电通量的概念，掌握高斯定理的表述和证明。
6．掌握应用高斯定理求电场的条件和方法，并能灵活应用。
7．掌握电场线的性质。
8．理解静电场环路定理和电势的概念。
9．掌握电场和电势之间的关系。
10．掌握电势的计算方法。
（二）静电场中的导体
考试内容
导体的静电平衡条件，导体（导体壳）的电荷分布，孤立导体的电容，电容器及电容，电容器储能。
考试要求
1．理解和掌握静电场中导体的平衡条件。
2．简单计算导体和导体壳的电荷分布。
3．掌握电容器中电场、电势以及电容的计算方法，并能灵活应用。
4．理解电容器储能的概念。
（三）静电场中的电介质
考试内容
电介质极化现象，极化的微观机制，极化强度矢量，退极化场，极化率，极化电荷，电位移矢量，高斯定理。
考试要求
1．了解电介质的极化，掌握极化的微观机制。
2．理解极化强度矢量和退极化场的概念。
3．理解极化电荷的概念，掌握极化电荷与极化强度矢量之间的关系。
4．理解并熟练掌握有电介质的高斯定理，并能够灵活应用。
5．理解并掌握电位移矢量与电场及极化强度矢量之间的关系。
（四）恒磁场
考试内容
磁感应强度，比奥-萨伐尔定律，载流回路的磁场，安培环路定理，磁场高斯定理，磁场对载流导线的作用，带电粒子在磁场中的运动。
考试要求
1．了解磁的基本现象，理解磁感应强度的概念。
2．掌握毕奥萨-伐尔定律和安培定律。
3．能够运用毕奥-萨伐尔定律计算不同载流回路的磁感应强度。
4．掌握安培环路定理及采用安培环路定理计算载流导线产生磁场的条件和方法。
5．了解磁场高斯定理，并掌握磁场线的性质。
6．掌握磁场对载流导线的作用。
7．掌握带电粒子在磁场中的运动，理解安培力与洛伦兹力间的关系。
8．了解霍尔效应的概念，掌握利用霍尔效应判别导电类型的方法。
（五）电磁感应
考试内容
法拉第定律，楞次定律，动生电动势，感生电动势，互感和自感。
考试要求
1．了解基本的电磁感应现象。
2．理解法拉第定律，掌握采用法拉第定律计算电动势大小和方向的方法。
3．理解楞次定律，并能够判别电动势的方向。
4．理解动生电动势的概念，掌握动生电动势的计算方法。
5．理解感生电动势的概念，掌握感应电动势的计算方法。
6．掌握交流发电机的基本原理，了解涡旋电场的概念。
7．理解互感和自感的概念，掌握互感和自感的计算方法并能灵活运用。
四、备注
需使用不带记忆功能的科学计算器
概率论与数理统计
适用专业名称：数学
参考书目：
《概率论与数理统计》第四版，盛骤等编，高等教育出版社，2008年
《概率论与数理统计教程》第二版， 茆诗松等编，高等教育出版社，2011年
一、考试目的与要求
测试考生概率论基本理论的掌握程度，重点测试考生对随机变量及其分布的认识，随机变量的分布及其数字特征的求解能力及概率论的简单应用能力。
二、试卷结构（满分100分）
内容比例：
概率的定义和性质，条件概率和独立性 约20分
随机变量及其分布 约40分
多维随机变量及其分布 约30分
大数定律和中心极限定理 约10 分
题型比例：
1．计算题 约 80 分
2．分析论述题 约 20分
三、考试内容与要求
（一）随机事件及概率
考试内容 概率的定义，性质，条件概率，全概率公式和贝叶斯公式，事件的独立性。
考试要求
1. 能够利用概率的性质计算事件的概率；
2. 掌握条件概率公式，全概率公式和贝叶斯公式及其应用；
3. 理解掌握事件的独立性.
（二）随机变量及其分布
考试内容
一维随机变量的分布，常见离散型随机变量及其分布，常见连续性随机变量及其分布，随机变量的数字特征，离散型和连续型随机变量函数的分布，切比雪夫不等式。
考试要求
1. 熟练掌握一维随机变量及其分布函数的定义，离散型和连续型随机变量分布函数的求解方法；
2. 熟练掌握常见离散型随机变量的分布；
3. 熟练掌握常见连续型随机变量的分布；
4. 熟练掌握随机变量数字特征的定义，性质和求解方法；
3. 理解切比雪夫不等式及其应用.
（三）多维随机变量及其分布
考试内容
二维随机变量的联合分布，边缘分布和条件分布，随机变量的独立性，二维随机变量函数的分布，二维随机变量的数字特征。
考试要求
3. 掌握二维离散型和连续型随机变量的联合分布；
4. 掌握二维离散型和连续型随机变量的边缘分布；
5. 了解二维离散型和连续型随机变量的条件分布；
6. 熟练掌握随机变量的独立性；
7. 熟练掌握二维随机变量数字特征的定义，性质和求解方法；
8. 了解二维随机变量函数的分布及其二维随机变量函数的数字特征.
（四）大数定律和中心极限定理
考试内容
大数定律，中心极限定理。
考试要求
1. 理解大数定律及其应用；
2. 理解中心极限定理及其应用
适用专业名称：数学
参考书目：
《概率论与数理统计》第四版，盛骤等编，高等教育出版社，2008年
《概率论与数理统计教程》第二版， 茆诗松等编，高等教育出版社，2011年
一、考试目的与要求
测试考生概率论基本理论的掌握程度，重点测试考生对随机变量及其分布的认识，随机变量的分布及其数字特征的求解能力及概率论的简单应用能力。
二、试卷结构（满分100分）
内容比例：
概率的定义和性质，条件概率和独立性 约20分
随机变量及其分布 约40分
多维随机变量及其分布 约30分
大数定律和中心极限定理 约10 分
题型比例：
1．计算题 约 80 分
2．分析论述题 约 20分
三、考试内容与要求
（一）随机事件及概率
考试内容 概率的定义，性质，条件概率，全概率公式和贝叶斯公式，事件的独立性。
考试要求
1. 能够利用概率的性质计算事件的概率；
2. 掌握条件概率公式，全概率公式和贝叶斯公式及其应用；
3. 理解掌握事件的独立性.
（二）随机变量及其分布
考试内容
一维随机变量的分布，常见离散型随机变量及其分布，常见连续性随机变量及其分布，随机变量的数字特征，离散型和连续型随机变量函数的分布，切比雪夫不等式。
考试要求
1. 熟练掌握一维随机变量及其分布函数的定义，离散型和连续型随机变量分布函数的求解方法；
2. 熟练掌握常见离散型随机变量的分布；
3. 熟练掌握常见连续型随机变量的分布；
4. 熟练掌握随机变量数字特征的定义，性质和求解方法；
3. 理解切比雪夫不等式及其应用.
（三）多维随机变量及其分布
考试内容
二维随机变量的联合分布，边缘分布和条件分布，随机变量的独立性，二维随机变量函数的分布，二维随机变量的数字特征。
考试要求
3. 掌握二维离散型和连续型随机变量的联合分布；
4. 掌握二维离散型和连续型随机变量的边缘分布；
5. 了解二维离散型和连续型随机变量的条件分布；
6. 熟练掌握随机变量的独立性；
7. 熟练掌握二维随机变量数字特征的定义，性质和求解方法；
8. 了解二维随机变量函数的分布及其二维随机变量函数的数字特征.
（四）大数定律和中心极限定理
考试内容
大数定律，中心极限定理。
考试要求
1. 理解大数定律及其应用；
2. 理解中心极限定理及其应用
固体物理
适用专业名称：物理学
参考书目：
《固体物理教程》 王矜奉 山东大学出版社
《固体物理学》 黄昆 人民教育出版社
一、考试目的与要求
测试考生对固体物理学的基本概念、基本原理和基本方法的掌握程度和利用基础知识解决固体的热学、力学和电学等领域相关问题的能力。试卷结构（满分100分）
内容比例：
晶体结构、倒易点阵 约20分
晶体结合 约10分
晶格振动与热学性质 约20分
晶体缺陷 约10分
固体电子能带论 约20分
自由电子论与电子的输运性质 约20分
题型比例：
1．概念题 约30分
2．简答题 约30分
3．综合运用题 约40分
二、考试内容与要求
（一）晶体结构、倒易点阵
考试内容
晶体结构、倒易点阵和晶体的对称性
考试要求
1.晶胞，晶向与晶面指数，典型的晶体结构；
2.倒易点阵与布里渊区；
3.晶体的对称性。
（二）晶体结合
考试内容
晶体的结合类型及基本特点。
考试要求
1.晶体的五种结合类型；
2.离子晶体的内能，马德隆常数、离子半径；
3.分子晶体内能，Lenard-Jeans势。
（三）晶体的振动与热容理论
考试内容
一维单原子链与双原子链的振动和固体热容的理论。
考试要求
1.熟练掌握一维原子链的振动方程的建立与求解；
2.深刻理解玻恩卡曼条件；
3.熟练掌握简正振动与声子的概念；
4.掌握模式密度的基本概念；
5.熟练掌握固体热容的德拜模型与爱因斯坦模型；
6.掌握非简谐效应。
（四）晶体的缺陷
考试内容
晶体的缺陷类型与点缺陷的统计理论
考试要求
1.掌握晶体缺陷的类型及特点；
2.掌握热缺陷的统计理论；
3.掌握热缺陷的扩散规律。
（五）固体电子的能带理论
考试内容
布洛赫定理，近自由电子模型和紧束缚模型
考试要求
1.掌握布洛赫定理的证明；
2.掌握近自由电子模型；
3.掌握平面波模型；
4.掌握紧束缚模型；
5.掌握布洛赫电子在电场中的速度、加速度和有效质量；
6.掌握态密度等基本概念。
（六）固体电子的能带理论
考试内容
电子气的费米理论与电子的输运性质
考试要求
1.掌握电子气的费米能与电子的热容量；
2.电子气的玻尔兹曼方程；
3.金属电阻率的统计模型。
适用专业名称：物理学
参考书目：
《固体物理教程》 王矜奉 山东大学出版社
《固体物理学》 黄昆 人民教育出版社
一、考试目的与要求
测试考生对固体物理学的基本概念、基本原理和基本方法的掌握程度和利用基础知识解决固体的热学、力学和电学等领域相关问题的能力。试卷结构（满分100分）
内容比例：
晶体结构、倒易点阵 约20分
晶体结合 约10分
晶格振动与热学性质 约20分
晶体缺陷 约10分
固体电子能带论 约20分
自由电子论与电子的输运性质 约20分
题型比例：
1．概念题 约30分
2．简答题 约30分
3．综合运用题 约40分
二、考试内容与要求
（一）晶体结构、倒易点阵
考试内容
晶体结构、倒易点阵和晶体的对称性
考试要求
1.晶胞，晶向与晶面指数，典型的晶体结构；
2.倒易点阵与布里渊区；
3.晶体的对称性。
（二）晶体结合
考试内容
晶体的结合类型及基本特点。
考试要求
1.晶体的五种结合类型；
2.离子晶体的内能，马德隆常数、离子半径；
3.分子晶体内能，Lenard-Jeans势。
（三）晶体的振动与热容理论
考试内容
一维单原子链与双原子链的振动和固体热容的理论。
考试要求
1.熟练掌握一维原子链的振动方程的建立与求解；
2.深刻理解玻恩卡曼条件；
3.熟练掌握简正振动与声子的概念；
4.掌握模式密度的基本概念；
5.熟练掌握固体热容的德拜模型与爱因斯坦模型；
6.掌握非简谐效应。
（四）晶体的缺陷
考试内容
晶体的缺陷类型与点缺陷的统计理论
考试要求
1.掌握晶体缺陷的类型及特点；
2.掌握热缺陷的统计理论；
3.掌握热缺陷的扩散规律。
（五）固体电子的能带理论
考试内容
布洛赫定理，近自由电子模型和紧束缚模型
考试要求
1.掌握布洛赫定理的证明；
2.掌握近自由电子模型；
3.掌握平面波模型；
4.掌握紧束缚模型；
5.掌握布洛赫电子在电场中的速度、加速度和有效质量；
6.掌握态密度等基本概念。
（六）固体电子的能带理论
考试内容
电子气的费米理论与电子的输运性质
考试要求
1.掌握电子气的费米能与电子的热容量；
2.电子气的玻尔兹曼方程；
3.金属电阻率的统计模型。
光纤通信
适用专业名称：光学工程(0803)、电子信息类（0854）光学工程方向
参考书目：
《光纤通信》（第二版）刘增基主编西安电子科技大学出版社，2008年版；《光纤通信》（第三版）Gerd Keiser著（李玉权等译），电子工业出版社，2002年版
一、考试目的与要求
掌握光纤的传输理论，光缆结构及特点，无源光器件的原理及性能，光源和光检测器的工作原理及特性，光纤放大器的工作原理及结构，光纤通信系统的组成、性能指标及系统的设计，掌握掺饵光纤放大器、波分复用技术等光纤通信新技术的原理与应用。
二、试卷结构（满分100分）
内容比例：
1．光纤线路约30%
2．光端机约30%
3．光纤通信系统约30%
4．光纤通信新技术约10%
题型比例：
1．概念题（包括填空与简答）约40%
2．基本理论与规律的论述及推导约20%
3．计算题约20%
4．应用题约20%
三、考试内容与要求
（一）光纤
了解光纤结构和类型；掌握数值孔径、传播时延、时延差的概念及影响因素；理解波动方程及其解，导波模模式；掌握光纤单模传输条件；掌握光纤的衰减、色散与带宽的关系；理解色散补偿方案；了解光纤传输中的非线性效应；了解光纤制作，光纤产品和特性。
（二）光源和光发射机
了解光源器件的结构；掌握半导体激光器（LD）和半导体发光二极管（LED）的工作原理；理解LD、LED的特性和类型；了解光源与光纤的耦合；理解光发射机的结构和参数；了解外调制器的工作原理。
（三）光检测器和光接收机
理解光检测器的类型和工作原理；了解光检测器的特性参数；理解光接收机的构成；掌握光接收机的主要性能参数；了解光收发模块。
（四）光纤通信器件
理解光放大器的增益系数、增益饱和、噪声系数；理解半导体光放大器的结构、增益谱；掌握掺饵光纤放大器的工作原理及主要性能指标；理解光纤拉曼放大器的增益谱；了解光放大器的应用类型；理解耦合器的工作原理、参数；理解滤波器的类型、工作原理；掌握隔离器的主要构成及工作原理；理解环形器、衰减器的工作原理；了解连接器的结构、型号、参数及作用；了解光开关类型和工作原理。
（五）光纤通信系统的设计
了解光纤通信系统中光的特性；理解光纤通信系统的基本组成—光发射机、光纤及光接收机；理解光纤的衰减、色散以及非线性效应；掌握比特率、带宽、中继距离的概念及其影响因素。掌握光纤通信系统设计方法；理解数字光纤传输系统的技术考虑；理解数字传输系统中各种噪声的功率代价；了解模拟传输系统中载噪比与设计参数的关系；掌握光放大器对模拟传输系统设计的影响；了解光互连设备作用，光端机的类型和作用。
（六）光缆线路的施工与测试
了解光缆结构、类型和技术规范；了解室外光缆的敷设形式；了解室内光缆的敷设；理解光缆接续与成端；掌握光时域反射仪、光纤熔接机、光源与光功率计等常用仪表的使用；掌握光纤传输线路故障检测步骤与方法。
（七）波分复用技术
掌握波分复用技术的基本原理；理解波分复用、密集波分复用、粗波分复用系统；掌握波分复用系统中的关键器件的工作原理；了解波分复用系统规范。
四、备注
需使用不带记忆功能的科学计算器。
适用专业名称：光学工程(0803)、电子信息类（0854）光学工程方向
参考书目：
《光纤通信》（第二版）刘增基主编西安电子科技大学出版社，2008年版；《光纤通信》（第三版）Gerd Keiser著（李玉权等译），电子工业出版社，2002年版
一、考试目的与要求
掌握光纤的传输理论，光缆结构及特点，无源光器件的原理及性能，光源和光检测器的工作原理及特性，光纤放大器的工作原理及结构，光纤通信系统的组成、性能指标及系统的设计，掌握掺饵光纤放大器、波分复用技术等光纤通信新技术的原理与应用。
二、试卷结构（满分100分）
内容比例：
1．光纤线路约30%
2．光端机约30%
3．光纤通信系统约30%
4．光纤通信新技术约10%
题型比例：
1．概念题（包括填空与简答）约40%
2．基本理论与规律的论述及推导约20%
3．计算题约20%
4．应用题约20%
三、考试内容与要求
（一）光纤
了解光纤结构和类型；掌握数值孔径、传播时延、时延差的概念及影响因素；理解波动方程及其解，导波模模式；掌握光纤单模传输条件；掌握光纤的衰减、色散与带宽的关系；理解色散补偿方案；了解光纤传输中的非线性效应；了解光纤制作，光纤产品和特性。
（二）光源和光发射机
了解光源器件的结构；掌握半导体激光器（LD）和半导体发光二极管（LED）的工作原理；理解LD、LED的特性和类型；了解光源与光纤的耦合；理解光发射机的结构和参数；了解外调制器的工作原理。
（三）光检测器和光接收机
理解光检测器的类型和工作原理；了解光检测器的特性参数；理解光接收机的构成；掌握光接收机的主要性能参数；了解光收发模块。
（四）光纤通信器件
理解光放大器的增益系数、增益饱和、噪声系数；理解半导体光放大器的结构、增益谱；掌握掺饵光纤放大器的工作原理及主要性能指标；理解光纤拉曼放大器的增益谱；了解光放大器的应用类型；理解耦合器的工作原理、参数；理解滤波器的类型、工作原理；掌握隔离器的主要构成及工作原理；理解环形器、衰减器的工作原理；了解连接器的结构、型号、参数及作用；了解光开关类型和工作原理。
（五）光纤通信系统的设计
了解光纤通信系统中光的特性；理解光纤通信系统的基本组成—光发射机、光纤及光接收机；理解光纤的衰减、色散以及非线性效应；掌握比特率、带宽、中继距离的概念及其影响因素。掌握光纤通信系统设计方法；理解数字光纤传输系统的技术考虑；理解数字传输系统中各种噪声的功率代价；了解模拟传输系统中载噪比与设计参数的关系；掌握光放大器对模拟传输系统设计的影响；了解光互连设备作用，光端机的类型和作用。
（六）光缆线路的施工与测试
了解光缆结构、类型和技术规范；了解室外光缆的敷设形式；了解室内光缆的敷设；理解光缆接续与成端；掌握光时域反射仪、光纤熔接机、光源与光功率计等常用仪表的使用；掌握光纤传输线路故障检测步骤与方法。
（七）波分复用技术
掌握波分复用技术的基本原理；理解波分复用、密集波分复用、粗波分复用系统；掌握波分复用系统中的关键器件的工作原理；了解波分复用系统规范。
四、备注
需使用不带记忆功能的科学计算器。
激光原理
适用专业名称：光学工程(0803)、电子信息类（0854）光学工程方向
参考书目：
周炳琨等，激光原理（第5版），国防工业出版社，2004年
一、考试目的与要求
测试考生对激光产生及传输的基本物理规律的掌握，并把激光的产生、操纵、传输的基本原理和方法应用到实际中的能力。考生应掌握激光器的基本原理、高斯光束的传输以及激光器的调制技术，如模式选择、稳频、锁模、调Q等激光技术。
二、试卷结构（满分100分）
内容比例：
1．激光的基本原理 约10%
2．光学谐振腔 约30%
3．高斯光束 约20%
4．电磁场与物质的相互作用 约20%
5．激光器特性的控制与改善 约20%
题型比例：
1．简答题 约40%
2．计算题 约60%
三、考试内容与要求
（一）激光的基本原理
1. 掌握原子的自发发射、受激吸收与受激发射的物理图景
2. 了解激光的特性
3. 了解激光产生的条件
4. 了解光学谐振腔的作用
（二）光学谐振腔
1. 掌握光学系统传输矩阵的计算方法
2. 掌握谐振腔的稳定性条件
3. 了解自在现模式
4. 掌握基模高斯光束的特征，如光斑半径、等像面、远场发散角等
5. 了解高阶模式的光斑特征
6. 掌握由稳定腔求解其等价共焦腔的方法
（三）高斯光束
1. 了解高斯光束的特征
2. 掌握利用q参数处理高斯光束传输的方法
3. 了解高斯光束聚焦时的光束特征
4. 了解高斯光束准直时的光束特征
5. 了解高斯光束的自在现变换条件
（四）电磁场与物质的相互作用
1. 了解线型函数
2. 了解均匀加宽
3. 掌握自然加宽的机理
4. 了解碰撞加宽
5. 了解非均匀加宽
6. 掌握多普勒加宽机理
7. 掌握三、四能级系统的速率方程及能级跃迁
（五）激光器特性的控制与改善
1. 掌握横模的选择目的、机理及方法
2. 掌握纵模的选择目的、机理及方法
3. 掌握频率稳定的基本概念
4. 掌握调Q激光器的基本原理和主要调Q方法
四、备注
需使用不带记忆功能的科学计算器
适用专业名称：光学工程(0803)、电子信息类（0854）光学工程方向
参考书目：
周炳琨等，激光原理（第5版），国防工业出版社，2004年
一、考试目的与要求
测试考生对激光产生及传输的基本物理规律的掌握，并把激光的产生、操纵、传输的基本原理和方法应用到实际中的能力。考生应掌握激光器的基本原理、高斯光束的传输以及激光器的调制技术，如模式选择、稳频、锁模、调Q等激光技术。
二、试卷结构（满分100分）
内容比例：
1．激光的基本原理 约10%
2．光学谐振腔 约30%
3．高斯光束 约20%
4．电磁场与物质的相互作用 约20%
5．激光器特性的控制与改善 约20%
题型比例：
1．简答题 约40%
2．计算题 约60%
三、考试内容与要求
（一）激光的基本原理
1. 掌握原子的自发发射、受激吸收与受激发射的物理图景
2. 了解激光的特性
3. 了解激光产生的条件
4. 了解光学谐振腔的作用
（二）光学谐振腔
1. 掌握光学系统传输矩阵的计算方法
2. 掌握谐振腔的稳定性条件
3. 了解自在现模式
4. 掌握基模高斯光束的特征，如光斑半径、等像面、远场发散角等
5. 了解高阶模式的光斑特征
6. 掌握由稳定腔求解其等价共焦腔的方法
（三）高斯光束
1. 了解高斯光束的特征
2. 掌握利用q参数处理高斯光束传输的方法
3. 了解高斯光束聚焦时的光束特征
4. 了解高斯光束准直时的光束特征
5. 了解高斯光束的自在现变换条件
（四）电磁场与物质的相互作用
1. 了解线型函数
2. 了解均匀加宽
3. 掌握自然加宽的机理
4. 了解碰撞加宽
5. 了解非均匀加宽
6. 掌握多普勒加宽机理
7. 掌握三、四能级系统的速率方程及能级跃迁
（五）激光器特性的控制与改善
1. 掌握横模的选择目的、机理及方法
2. 掌握纵模的选择目的、机理及方法
3. 掌握频率稳定的基本概念
4. 掌握调Q激光器的基本原理和主要调Q方法
四、备注
需使用不带记忆功能的科学计算器
物理光学
适用专业名称：应用物理、材料物理、微电子、光电技术
参考书目：
《物理光学与应用光学》石顺祥 西安电子科技大学出版社 第二版
《大学物理学》下册 赵近芳 北邮出版社。
一、考试目的与要求
测试考生掌握物理光学基本原理和基本方法，以及分析和解决问题的能力。考生应能够运用基本原理和方法，初步具备解决物理光学中的基本问题的能力。
二、试卷结构（满分100分）
物理光学 100分
题型比例：
1． 计算题 约80分
2． 分析论证题 约20分
三、考试内容与要求
1.光掌握光程 相干光 双缝干涉
2.掌握等倾干涉
3.掌握等厚干涉 迈克尔逊干涉仪
4.掌握单缝的夫琅和费衍射
5.了解圆孔的夫琅和费衍射 光学仪器的分辨本领
6.掌握光栅衍射 X射线衍射
7.掌握自然光和偏振光 起偏和检偏 马吕斯定律 布儒斯特定律
8.掌握反射和折射时光的偏振 光的双折射
9.掌握爱因斯坦光子理论 光电效应 康普顿效应
四、备注
需使用不带记忆功能的科学计算器
原文标题：关于公布我校2020年硕士研究生招生考试复试科目大纲的通知
原文链接：http://graduate.hrbust.edu.cn/info/1243/3641.htm
以上就是“2021考研复试大纲：哈尔滨理工大学理学院2020年硕士研究生招生考试复试科目大纲及参考书目”的相关内容，更多考研信息，请持续关注。
